Przejdź do głównej treści
Otwórz wyszukiwarkę
Szukaj
Zamknij wyszukiwarkę Wyczyść Szukaj
Produkty w koszyku: 0. Zobacz szczegóły

Twój koszyk jest pusty

METROLOGIA GEOMETRYCZNA POWIERZCHNI...

Przejdź do sekcji Opinie
119,20 zł
Cena Detaliczna: 129,00 zł
szt.
Dostępność:
10 szt.
Czas wysyłki: 24 godziny
Dostawa od 18,00 zł - Kurier DPD

Zapytaj o produkt
Udostępnij

Opis

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

AUTOR STANISŁAW ADAMCZAK
TYTUŁ METROLOGIA GEOMETRYCZNA POWIERZCHNI TECHNOLOGICZNYCH. ZARYSY KSZTAŁTU - FALISTOŚĆ – MIKRO- I NANOCHROPOWATOŚĆ
WYDAWCA PWN
ROK WYDANIA 2023-10-23
FORMAT 165 X 235 MM
OPRAWA MIĘKKA
ILOŚĆ STRON 450
EAN 9788301231583
Znajdź podobne według klucza:
(30807656)

Opinie

Liczba ocen: 0
Oceń i opisz