METROLOGIA GEOMETRYCZNA POWIERZCHNI...
Wystaw opinię o produkcie
Kod produktu: 9788301231583
Zapytaj o produkt
Administratorem danych osobowych jest Foto Art Jarosław Gotowała. Przetwarzamy je w celu przesłania odpowiedzi na zapytanie. Więcej informacji dotyczących przetwarzania danych osobowych znajduje się w polityce prywatności.
Udostępnianie karty produktu
Opis
Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.
Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.
Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.
| AUTOR | STANISŁAW ADAMCZAK |
| TYTUŁ | METROLOGIA GEOMETRYCZNA POWIERZCHNI TECHNOLOGICZNYCH. ZARYSY KSZTAŁTU - FALISTOŚĆ – MIKRO- I NANOCHROPOWATOŚĆ |
| WYDAWCA | PWN |
| ROK WYDANIA | 2023-10-23 |
| FORMAT | 165 X 235 MM |
| OPRAWA | MIĘKKA |
| ILOŚĆ STRON | 450 |
| EAN | 9788301231583 |
Opinie
Jeśli dodałeś/-aś recenzję, a nie pojawiłą się na liście, być może oczekuje na moderację.